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先端研究基盤共用促進事業(先端研究設備プラットフォームプログラム)
顕微イメージングソリューション プラットフォーム
共用機器管理センターに設置している”同位体顕微鏡システム”を産学官共用に推進拡大する
研究の内容
”同位体顕微鏡システム”の特質である「安定同位元素イメージング技術」を有効活用する利用課題を募集、選定、実施することにより産業イノベーションへの展開を図ります。
同位元素というと、すぐに年代測定が思い浮かびます。事実、これまで同位体顕微鏡システムは主に鉱物など宇宙科学の分野で、同位体比の分析に使われてきました。これは、入手した試料の断面の「ありのまま」を観察して得られる成果です。その測定手法の発想を変えることで、同位体顕微鏡システムを産業応用に展開できます。すなわち、「ありのまま」を観るのではなく、積極的に同位体元素を調べたい試料に「ドープ」することで、今まで見ることができなかった目的のイメージングを測定することが可能になります。しかも、放射性同位体ではなく、安定性同位体を使って安全に作業することができます。圦本 尚義 教授 Hisayoshi Yurimoto理学博士 -
オープンファシリティ
設備は「所有」から「共用」の時代へ
北海道大学が所有する高度な研究設備を学内外の研究者に開放し、共用化することにより本学及び地域の研究水準の向上に繋げることを目指す設備共同利用システムです。
研究の内容
約200台の研究設備が登録されているオープンファシリティは、利用設備の講習を受講すれば、利用者は利用料金だけで最先端設備を利用できます。また、操作方法や技術相談などにも、高度な技術力と豊富な知識を持ったスタッフが親身になってアドバイス致します。
装置利用の予約はWebページ「装置予約管理システム」で24時間受け付けます。
まずはホームページのメール送信フォームから利用希望装置についてお問い合わせ下さい。グローバルファシリティセンター Global Facility Center -
先端研究基盤共用促進事業NMR共用プラットフォーム
先端NMRファシリティの共用促進プログラム
先端NMRファシリティは北海道地域で最大のNMR施設です。地域産業のみならず、全国の産業界、学術・研究機関などからもご利用いただけます。
研究の内容
北海道大学先端NMRファシリティの運営組織は、大学院先端生命科学研究院・理学研究院がコアとなり、 産学・地域協働推進機構、 創成研究機構グローバルファシリティセンターとも連携して産業界を中心とした新規利用の促進を目指しております。 800MHz溶液NMR・600MHz固体NMRなどの装置群のスペック、利用枠申込等の詳細についてはホームページをご覧いただき、 ぜひとも北海道大学の先端NMRファシリティの共用促進事業をご利用いただけますようよろしくお願い申し上げます。
出村 誠 教授 Makoto Demura薬学博士 -
1枚の顕微鏡画像でも、全てを語れる
日本全国の研究者へ、最新の生物顕微鏡を提供する施設
日本全国の研究者が最新の生物顕微鏡を利用できる施設としてニコンイメージングセンターは設立され、現在は電子科学研究所の運営で活動しております。顕微鏡に触れたことのないような初心者の方にも、専任スタッフが機器やソフトウエアの操作方法を説明します
研究の内容
近年になってバイオイメージングの需要はますます増大しており、遺伝子導入技術や蛍光タンパク質による分子・細胞マーキング技術、そして顕微鏡などの観察機器の性能も、飛躍的に向上しております。しかし高性能の顕微鏡システムは非常に高額で、特にスタートアップ時にすべてを揃えるのは困難なうえ、誰でも簡単に優れたデータを取得できる訳ではないところに、イメージングの難しさがございます。
当センターは学外の研究者にも広く機器を開放し、機器やソフトウエアの操作指導のみならず、イメージングのノウハウも提供します。また本年より「先端バイオイメージング支援プラットフォーム」にも参画し、国内の他の顕微鏡施設とも連携して、最先端の顕微鏡の利用の支援にも携わっております。イメージングを検討中の企業の方々におきましては、まずはぜひご検討ください。三上 秀治 教授 Hideharu Mikami博士(理学) -
ナノテクノロジープラットフォーム
微細加工・微細構造解析
北海道大学が所有する最先端設備とその活用ノウハウを提供し、微細加工・微細構造解に関する研究開発を支援します。また、全国の実施機関と緊密に連携し、全国的な設備共用体制の下に産業界や研究現場の課題解決へのアプローチを提供します。
研究の内容
微細加工はクリーンルームに設置した最先端の電子線描画装置によるパターン形成、多元スパッタ装置・原子層堆積層などによる成膜加工、反応性イオンエッチング装置によるエッチング加工、FE-SEMによるデバイス評価など、多様な装置群を用いることで薄膜形成から金属ナノ構造作製などマイクロメートルからナノメートルスケールのデバイス作製を支援します。
微細構造解析では収差補正透過電子顕微鏡(S/TEM)、複合ビーム顕微鏡(FIB-SEM)を用いた内部構造観察、走査電子顕微鏡(FE-SEM)、オージェ電子分光装置(AES)、電子線プローブマイクロアナライザ(EPMA)による表面・状態分析、超高圧電子顕微鏡や時間分解光電子顕微鏡、スピンSEMといった特殊ビーム・特殊環境下での測定により材料の分析に関する支援を行います。三澤 弘明 特任教授 Hiroaki Misawa理学博士